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Fein-Focus Steuerung ermöglicht über 29 mm eine Feinfocusierung. An vielen Mikroskoptypen einsetzbar Feinfocusierung über 29 mm trägt bis zu 5 kg Auflösung von 240 microns/rev Feinfocusierung: über 29 mm Auflösung: von 240 microns/rev

Messvorrichtung für die Ermittlung der Schnittkraft von Schneidklingen ▪ Messprinzip: Kraftmesssensor in Schnittrichtung verfahrbar mit Servogetriebemotor ▪ Manuell bedienbar unter individuellen Versuchsbedingungen ▪ Automatische Wasserbenetzung und Einzug des Schnittmaterials aus Vorratskassette ▪ Schnellwechselvorrichtung für verschiedene Klingentypen ▪ Vergleichsmessung von Schnitt zu Schnitt, Kraft-Weg-Diagramm ▪ Sonderausführung auch als kleines Tischgerät mit manueller Bedienung und Momentanwert-Kraftanzeige (ohne Datenarchivierung) Made in: Germany

ASE-Lichtquellen nutzen die verstärkte spontane Emission (ASE) in optisch gepumpter Seltenerd-dotierter Fasern. Fibotec offeriert Version mit Er-. aber auch Yb-Fasern (C-, L-Band, 1030-1100 nm) Faseroptische Breitband-Lichtquellen nutzen die verstärkte spontane Emission (Amplified Spontaneous Emission - ASE) innerhalb optisch gepumpter Seltenerd-dotierter Fasern. Erhältlich sind Standardprodukte im C- und L-Band, sowie auf Anfrage im Wellenlängenbereich 1030-1100 nm. Fibotec offeriert aber auch die Möglichkeit für kundenspezifische Produkte. Die spektrale Breite solcher Lichtquellen kann vom Entwickler in einem Bereich von wenigen nm bis zur vollen Breite des Emissionsspektrum des aktiven Ions (z.B. Erbiumions) festgelegt werden. Die optische Leistungsdichte faseroptischer ASE-Quellen ist typischerweise höher als die von fasergekoppelten, breitbandigen Halbleiterlichtquellen bei gleichzeitig geringerem Intensitätsrauschen (RIN). Diese Eigenschaften und die wegen der Abwesenheit von Resonatoreinflüssen gute Inkohärenz machen ASE-Quellen zu einem bevorzugten Instrument beim Einsatz in Meßtechnikanwendungen. C- und L-Band-Quellen werden für den Test und die spektrale Charakterisierung von optischen Komponenten einschließlich DWDM-Komponenten eingesetzt. Auch viele auf Weißlichtinterferometrie basierende Meßinstrumente nutzen ASE-Quellen.

Positioniertisch mit Stepper Motor; Mikroskoptisch mit sehr guter Wiederholgenauigkeit, Verfahrweg von 154 x 154 mm, Versionen für verschiedene aufrechte Mikroskope erhältlich, OEM Version auf Anfrage, Controller V31XYZE empfohlen Wiederholgenauigkeit: +/- 7 µm Verfahrweg 154 x 154 mm Ausrüstung mit Encodern nicht möglich Wiederholgenauigkeit: +/- 7 µm Verfahrweg: 154 x 154 mm

Positioniertisch mit linear Motor; Mikroskoptisch mit ausgezeichneter Repeatability; integrierte 50 nm Encoder; Versionen für verschiedene inverse Mikroskope erhältlich; OEM Version auf Anfrage; Controller VLD31XYZ empfohlen • Wiederholgenauigkeit: 0,15 µm • Minimale Schrittweite 0,05 µm • Metrische Genauigkeit 0,045 µm • Minimale Geschwindigkeit: 1 µm/sec • Maximale Geschwindigkeit: 300 mm/sec • Verfahrweg: 121 x 81 mm" Wiederholgenauigkeit: 0,15 µm Minimale Schrittweite: 0,05 µm Metrische Genauigkeit: 0,045 µm Minimale Geschwindigkeit: 1 µm/sec Maximale Geschwindigkeit: 300 mm/sec Verfahrweg: 121 x 81 mm

Der NanoSensor® ist ein berührungsloses Positionsmesssystem, das auf dem Prinzip der Kapazitätsmikrometrie basiert. Zwei Sensorplatten, ein Target und eine Sonde, bilden einen Parallelplattenkondensator. Der Abstand dieser beiden Platten kann mit der entsprechenden elektronischen Steuerung gemessen werden, bis besser als 7pm, mit einem Bereich bis zu 1,25mm, einem Frequenzgang bis zu 10KHz und einer Linearität bis zu 0,02%. Da der NanoSensor eine berührungslose Methode ist, ist er frei von Hysterese. Am Messpunkt wird keine Leistung abgeleitet. Eigenschaften: - Sub-Nanometer-Positionsauflösung - Null-Hysterese - Linearitätsfehler bis hinunter zu 0,02 %. - Bandbreite bis zu 10 kHz - Konstruktion mit hoher thermischer Stabilität (Super-Invar, Zerdur und Keramikoptionen verfügbar) - UHV, Strahlung, Tieftemperatur, unmagnetisch usw. Varianten Anwendunsgbereiche: - Präzisions-Fertigung - Metrologie - Deformationsmessungen - Fleckenmessung (verwendet an Roboterarm und -hand der Raumstation) - Steuerung der Bühne - Materialprüfung - Mikroskopie - Aktive Optik - Präzisionsbalken-Lenkung

Das NS-A-4101 ist ein einkanaliges, eigenständiges Elektronikmodul zur Ansteuerung der NX- und NC-NanoSensor-Serie. Das NS-A-4101 arbeitet durch Messung der Kapazitätsänderung eines Parallelplattenkondensators und gibt eine analoge Spannung proportional zur NanoSensor-Lücke aus. Die Ausgangsspannung variiert linear zwischen -5V und +5V, wenn sich die Sensorlücke von 50% bis 150% der nominalen NanoSensorlücke ändert; diese Skalierung ist vom Benutzer einstellbar. Die kompakte Größe, der Stand-Alone-Betrieb und die hohe Auflösung machen dies ideal für die Aufrüstung bestehender Systeme, bei denen Nanopositionierung erforderlich ist. Eigenschaften: - Sub-Nanometer-Positionsauflösung - Linearitätsfehler unter 0,02 %. - Werksseitig wählbare Bandbreite (100Hz oder 1kHz oder 10kHz) - Mehrere Einheiten können synchronisiert werden, um elektronische Interferenzen bei Anwendungen zu reduzieren, die mehrere Systeme erfordern

Motorisierter Z-Achsen Hubblock, ermöglicht die einfache installation von XY-Tischen, Steuerung über ProScan III möglich, Tragkraft ca. 14 kg Verfahrweg: 38 mm Auflösung: 20 nm Wiederholgenauigkeit; +/- 0,7 µm Verfahrgeschwindigkeit: 1 - 14 mm/s Encoder: nein Tragkraft: ca. 14 kg Verfahrweg: 38 mm Auflösung: 20 nm Wiederholgenauigkeit: +/- 0,7 µm Verfahrgeschwindigkeit: 1 - 14 mm/s

Positioniertisch mit Stepper Motor; Mikroskoptisch mit sehr guter Wiederholgenauigkeit, Verfahrweg von 117 x 77 mm, Versionen für verschiedene aufrechte Mikroskope erhältlich, OEM Version auf Anfrage, Controller V31XYZE empfohlen Wiederholgenauigkeit: +/- 7 µm Verfahrweg 117 x 77 mm Ausrüstung mit Encodern möglich Wiederholgenauigkeit: +/- 7 µm Verfahrweg: 117 x 77 mm